究竟是什么原因导致了材料结构的差异?

　　电池老化后，活性材料本体与表界面都发生了什么?

　　批量表征数据难以快速分析?材料内部信息难以准确获取?

　　锂离子电池的能量密度、循环寿命和倍率等性能从根本上取决于体相的理化反应、结构变化、机械性能，形态演变以及界面反应等。伴随着锂电池产品质量要求的不断提升与材料体系的迭代创新，多种表征、检测、计算模拟技术已被用于分析和预测电池性能相关的各种参数。

　　璧山蔡司璧山扫描电镜/璧山X射线显微镜/FIB双束璧山扫描电镜等多尺度、多维度的研究平台，针对锂离子电池正、负极材料、隔膜及关键辅材，提供了从材料制样、理化特性表征到智能数据分析的全方位解决方案，助力锂电池材料产业链从研发到生产全流程。

　　全方位形貌表征及智能图像分析

　　高分辨、无损伤、大景深成像及智能分析

　　搭载Gemini镜筒及高效探测器的蔡司场发射璧山扫描电镜(查看更多)为前驱体、成品、老化后材料提供从形貌表征、尺寸测量到分布统计的全方位表征，即使是纳米级的颗粒、孔隙、缺陷、包覆物结构也能精准无损表征。不导电样品无需镀膜，磁性样品直接观测。

　　智能图像分析软件ZEN提供机器学习算法，实现AI自动识别特殊结构，助力数据批量处理，高效处理繁重分析工作。　　▲ 1.利用高放大倍数下的SEM图像观察NCM二次颗粒的整体形貌;2.利用低放大倍数下的SEM图像观察石墨/硅混合负极颗粒的分布;3.利用背散射电子图像分析NCM二次颗粒内部的一次晶粒分布;4.利用Zen软件对隔膜的孔隙率进行分析，孔隙率为29.89%

　　轻松拓展多模态微观性能分析

　　从元素、晶体结构、官能团到微观电学、力学性能测量

　　SEM集成EDS、EBSD、Raman、EBIC、EPMA及AFM等丰富的拓展技术，为单相、复合、掺混材料及极片样品提供精准而全面的微观性能分析，即使是锂元素也可实现ppm级高精度分析。

　　▲ 1.NCM颗粒的拉曼光谱(插图，右上)、EDS mapping(插图，右中)及飞行时间二次离子质谱(插图，右下)分析;2.NCM/LMO混合材料的电子背散射衍射(EBSD)及EDS分析

　　高精度内部结构表征与三维分析

　　快速无损高精度截面加工、内部信息获取及三维重构分析

　　蔡司双束电镜FIB-SEM(查看更多)为材料、极片提供高精度的截面加工及成像分析，搭载飞秒激光的激光双束电镜LaserFIB尤其适合大尺寸极片及电芯截面的快速定位制备，冷冻聚焦离子束Cryo-FIB(查看更多)配合冷冻传输系统，能够在低温冷冻条件下对含液或环境敏感样品进行加工，保持样品真实结构。

　　FIB-SEM配合Atlas 5 3D三维重构软件对材料或极片样品边切边看，实现高精度连续层析成像，并自动对样品内部纳米级细节的三维分布进行智能分析。

　　▲ 1.Laser FIB预处理后的石墨/硅负极极片样品截面;2.利用FIB-SEM连续层析成像边切边看、自动分析材料、粘结剂及孔隙分布

　　跨尺度关联分析

　　电芯/极片表面及内部特定区域的智能识别、精准定位及高分辨分析

　　蔡司X射线显微镜(XRM)(查看更多)、璧山光学显微镜及FIB-SEM组成的多尺度、多维度关联分析平台，为锂电材料提供从粉料、极片到电芯层级，从新鲜、活化到老化全生命周期的微观性能分析，即使是商业化电芯内部的微纳米级缺陷，也可以轻松识别并分析。

　　1.利用XRM对及极片进行无损三维表征及缺陷位置定位;2.利用FIB-SEM借助Atlas 5数据定位切割极片的缺陷位置;3.利用SEM及EDS对缺陷位置进行形貌及成分分析

　　先进的表征分析技术使得结构-加工-性能关系的建立成为可能，蔡司多尺度、多维度显微解决方案为您提供锂电材料在粉料、极片、电芯层级全生命周期的多尺度、多维度的微观性能分析，助力您材料研发生产的全流程。